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0.1um高精度薄膜测厚仪
]资料
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产品名称:
0.1um高精度薄膜测厚仪
产品型号:
CHY-C2
产品厂商:
Labthink兰光
简单介绍
0.1um高精度薄膜测厚仪，薄膜测厚仪采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的**厚度测量。
0.1um高精度薄膜测厚仪的详细介绍
CHY-C2测厚仪采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的**厚度测量。符合GB 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等测试标准。
本测厚仪采用进口**传感器，测厚分辩率高达0.1微米，选用**传动元件，确保了试验结果的稳定性与准确性。大液晶屏显示，操作简便，配备微型打印机直接打印试验报告。另外具有电脑通信接口，通过选购软件实现数据的**性存储、查询、打印；软件功能强大，可将成组试验数据用柱形图或列表方式进行统计，试结报告可直接在局域网或广域网中进行传输。
详情请致电：济南兰光或登录官网www.labthink.cn查询
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